X線自由電子レーザーナノ集光システムの開発

格子干渉計を用いたX線波面計測法の検証

抄録

X線自由電子レーザーは超高ピーク輝度を有しており，更なる高度利用化に向けた集光技術の発展が望まれている．極限集光の達成には集光状態の把握が必須であり，我々はTalbot効果に基づく格子干渉計を用いたX線波面計測法の開発を行っている．本手法の信頼性を実証するため，縞走査法およびフーリエ変換法による解析についての比較を行った．またチェス盤回折格子を用いた2次元一括波面計測の検討結果について報告する．