極低温散乱近接場顕微鏡を用いたテラヘルツ計測の基礎検証

抄録

物体表面に局在するTHz領域の電磁波である近接場を検出するパッシブ計測は，試料表面のダイナミクス（分子運動，格子振動など）の解析をナノスケールで可能にする．そのようなテラヘルツ計測を可能にするパッシブ型散乱近接場顕微鏡の中でも，極低温散乱近接場顕微鏡は極低温下での試料の物性をパッシブかつナノスケールで計測できる．本研究では，極低温散乱近接場顕微鏡を用いた極低温下での物性解析を目的とし，テラヘルツ計測の基礎検証として極低温下での試料の遠隔場及び近接場取得を試みたので報告する．