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Online ISSN : 2432-1044
Print ISSN : 0386-8230
技術ノート
超幾何分布に基づく計数規準型一回抜取検査の簡易設計法
太田 宏, 殷 大徳, 金川 明弘
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1985 年 15 巻 2 号 p. 49-53

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© 1985 一般社団法人 日本品質管理学会
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