抄録
計測器の校正周期を最適化する場合に拠り所となる規格として「JIS Z 9090：測定―校正方 式通則 附属書１ 校正の間隔及び修正限界の定め方」がある．オンライン品質工学の「フィ ードバック制御」の考え方に基づいている．しかし，この規格は点検及び修正を行う場合の校 正方式を扱っており，例えば本稿で取り上げるピンゲージのようなゲージ類は対象外である．そこでピンゲージに適用できる方法として，同じくオンライン品質工学の手法である「診断・ 調節」の考え方を用い，その上で定量化したリスクを損失計算式中の不良損失のパラメータに 係数として反映する方法を提案する．それは，計測器が校正NGであっても，同時に被測定物がNGであるとは限らず，むしろ NGとなる確率は低いという考え方を基にしている．検討した結果，当社中国工場におけるピンゲージの校正周期を１年から３年に延長することができた．それは外部に支払う校正費用を 1/3に低減することができたことを意味する．
