超薄切片法を用いる試験片作製とその断面微細構造の観察

表面技術

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超薄切片法を用いる試験片作製とその断面微細構造の観察

坂入正敏

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ジャーナルフリー

2005 年 56 巻 11 号 p. 626

DOI https://doi.org/10.4139/sfj.56.626

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© 2005 一般社団法人表面技術協会

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