表面技術
Online ISSN : 1884-3409
Print ISSN : 0915-1869
ISSN-L : 0915-1869
解説
イオンビームによる電子顕微鏡用試料作製の進展
松島 英輝, 長谷部 祐治
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キーワード: Electron Microscope Preparation, Ion Beam, FIB, BIB
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2020 年 71 巻 4 号 p. 288-290

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