2004 年 77 巻 1 号 p. 7-12
2次元高速フーリエ変換 (2D-FFT) を利用したテクスチャ解析処理手法を使用して, メタリック塗膜中の光輝材分散性を評価した。2D-FFTによって得られたパワースペクトルから周期のみを取り出し, 波長ごとの存在比率を算出した。
これを, 長波長領域LW (long wavelength (8000-195μm)), 中波長領域MW (middle wavelength (190-94μm)) および, 短波長領域SW (short wavelength (93-63μm)) に区分した。光輝材分散性に対応する官能評価用語を「きめ細かさ」として順位法による官能評価を行った。その結果, SWにおいて高い相関が得られ, 光輝材分散性を評価する値として有効であることを示した。