計測と制御
Online ISSN : 1883-8170
Print ISSN : 0453-4662
ISSN-L : 0453-4662
解説
飛行時間(TOF)計測の性能を飛躍的に向上させる光コム干渉技術
今井 一宏, 興梠 元伸
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キーワード: 光コム, 電気光学変調, 飛行時間計測, 絶対距離計測, 多波長干渉
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2011 年 50 巻 2 号 p. 112-117

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© 2011 公益社団法人　計測自動制御学会
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