計測と制御
Online ISSN : 1883-8170
Print ISSN : 0453-4662
ISSN-L : 0453-4662
ナノスケール物性計測顕微鏡-多探針走査トンネル顕微鏡-
中山 知信, 姜 春生, 奥田 太一, 青野 正和
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キーワード: 走査トンネル顕微鏡, 多探針走査トンネル顕微鏡, ナノ構造, ナノサイエンス, ナノテクノロジー, 表面電気伝導
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1999 年 38 巻 12 号 p. 742-746

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