硫黄化合物の化学状態イメージングを目指した S K-edge における顕微 XAFS 法の検討

抄録

　S K-edge におけるマイクロ～ミリメートルスケールの化学状態マッピングを目標とし、本課題ではＸ線顕微鏡法の一つである密着型顕微鏡の検討を行った。その結果、像が歪むことなく測定できるが、集光ミラー由来のスペックルの影響により試料の観察が難しいことがわかった。今後、ミラーからのスペックルを除去するための軟Ｘ線用のディフューザーの検討を行い、密着型顕微鏡を検討していく。