X線磁気円二色性によるPt/Y₃Fe₅O₁₂の磁性解析

抄録

X線磁気円二色性測定により、Pt/Y₃Fe₅O₁₂(YIG) 薄膜の磁性を解析した。その結果、試料へのX線入射角が深くなるにつれて、Fe の XMCD 信号強度が増大した。これは、Pt/YIG 界面付近において、YIG 中の Fe の磁気モーメントが小さくなっていることを示唆する。