SPring-8/SACLA Research Report
Online ISSN : 2187-6886
Section B
Analysis of Ga2O3 Layer of Al2O3/GaAs Interface by Conversion Electron Yield X-ray Absorption Fine Structure
Shinsuke NishidaHirokazu Sasaki
Author information
Keywords: 2017B3395, BL08B2
JOURNAL OPEN ACCESS

2021 Volume 9 Issue 6 Pages 467-470

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[in Japanese]
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