STM点接触法による単一分子伝導の精密測定 -S/Se末端基の影響とその特性評価-

抄録

自己組織化単分子膜の技術と金探針を用いた超高真空STMを組み合わせることで、単一分子のワイアー構造を形成し、その伝導特性を、精密に、また繰り返し測定することが可能な手法「点接触法」を考案した。末端基が異なる分子を用いて実験を行うことで、末端基の違いが伝導特性や金基板と分子の結合の安定性に大きく影響することを直接示すことに初めて成功した。今後、分子デバイスを開発する上で重要な知見となると考える。