走査型アトムプローブによる分子系試料の分析とフラグメントイオンの相関の解析

抄録

アトムプローブを改良した走査型アトムプローブで、金属ないしはカーボンナノチューブの針状試料に担持された有機分子の試料の分析を行なった。電界蒸発のトリガ源(パルスレーザもしくは電圧パルス)、担持する下地材料の組み合わせによって、検出されるフラグメントイオンとその脱離方位(角度分布)に違いが見い出されている。本発表ではフラグメントイオン間の相関を脱離の前後関係だけでなく、脱離方位でも解析した結果を報告する。