ストリークカメラ反射高速電子回折によるSi(111)表面構造ダイナミクス

抄録

ストリークカメラ反射高速電子回折法は、ストリークカメラの原理を応用した表面構造ダイナミクスを観測できる手法である。この装置は試料に照射するフェムト秒レーザーと同期することで原理的にはサブピコ秒の時間分解能が可能であるが、その時間分解能を達成するためにSi(111)表面の7x7→1x1構造相転移についての研究を行っている。