有機トランジスタの伝導層における分子構造の観測

抄録

有機半導体デバイスの中で最も単純な物は電界効果トランジスタ（FET)である。FETでは表面分子数層の領域で電流が流れる。このような表面近傍では一般に構造緩和が生じている可能性があるが，構造の深さプロファイルを得ることは従来できなかった。我々は表面X線回折法を用いることによって，有機半導体表面構造を観測することに成功した。