フェムト秒レーザーを利用した時間分解光電子顕微鏡によるSiナノ構造中の光キャリアダイナミクス

抄録

繰り返し周波数可変のフェムト秒パルスレーザーを励起光源とした光電子顕微鏡を立ちあげ、ナノメートルオーダーの表面欠陥及び半導体ナノ結晶中の光キャリアダイナミクスをフェムト秒の時間分解で測定した．イメージング法により，単一のSiナノドットやSiナノワイヤ中の光キャリア寿命測定に成功している．ドットサイズやワイヤ直径，さらには，表面処理の光学特性への影響を調査している．