放射光X線と透過型電子顕微鏡を用いた金属材料中微細粒子の評価

抄録

金属材料中の微細粒子の評価はその多くが透過型電子顕微鏡によって行われてきたが，近年，放射光X線を用いた小角散乱法も注目されている．しかし，小角散乱法による金属中の微細粒子評価の研究はまだ少ない．本講演では，Cu合金をモデル材料として，Cu母相内に分散させた微細析出粒子を小角散乱および電子顕微鏡観察によって分析，比較し，小角散乱による析出粒子評価の精度を検討した結果を紹介する．