X線支援非接触原子間力顕微鏡(XANAM)によるNi表面でのX線誘起力場変化の解析

抄録

我々はNC-AFMと放射光X線を組み合わせたナノ表面元素分析のためのX線支援非接触原子間力顕微鏡（XANAM）の開発を行っている。これまで探針下のAu表面に対してAu-L3吸収端のX線を照射すると、探針-試料間の原子間力、特に共有結合力成分に変化が生ずる事を示してきた。今回は、Ni薄膜およびナノ粒子について観測し、X線エネルギーに対する変化について解析を行った結果を報告する。