導電性基板に密着させた絶縁性バルク試料の全電子収量軟Ｘ線吸収測定

抄録

一般に軟X線照射による絶縁性バルク試料の全電子収量測定は困難であるが，導電性基板に密着させた状態で軟X線を照射すれば，その導電性基板を介して容易に全電子収量を計測できることを見出した。これは軟X線が通過する近傍に導電パスが形成されるためであることを明らかにした。