超音波エレクトロニクスの基礎と応用に関するシンポジウム講演論文集
Online ISSN : 2433-1910
Print ISSN : 1348-8236
2P1-5 圧電基板上に装荷したSiO2薄膜の直線集束ビーム超音波材料解析システムによる評価
末永 凌大, 鈴木 雅視, 垣尾 省司, 大橋 雄二, 荒川 元孝, 櫛引 淳一
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2018 年 39 巻 論文ID: 2P1-5

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© 2018 特定非営利活動法人超音波エレクトロニクス協会
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