2Pa2-3 直線集束ビーム超音波材料解析システムを用いたV（x）測定法の理論的検討

超音波エレクトロニクスの基礎と応用に関するシンポジウム講演論文集

Online ISSN : 2433-1910
Print ISSN : 1348-8236

2Pa2-3 直線集束ビーム超音波材料解析システムを用いたV（x）測定法の理論的検討

大橋雄二, 横田有為, 山路晃広, 吉野将生, 黒澤俊介, 鎌田圭, 佐藤浩樹, 豊田智史, 花田貴, 吉川彰

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2020 年 41 巻論文ID: 2Pa2-3

DOI https://doi.org/10.24492/use.41.0_2Pa2-3

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© 2020 特定非営利活動法人超音波エレクトロニクス協会

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