表面と真空
Online ISSN : 2433-5843
Print ISSN : 2433-5835
特集「21世紀序盤の表面真空科学技術の進展―e-JSSNT創刊20周年記念特集―」
走査プローブ顕微鏡研究の進展
橋詰 富博
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2023 年 66 巻 5 号 p. 264-270

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抄録

In this review, advances in scanning probe microscopy (SPM) from the last two decades are presented. Progress in analyzing C60 molecules is described as an example of molecular imaging quality improvement for each decade. Innovations and progress in SPM imaging techniques are then outlined, especially atomic force microscopy operating in ultrahigh vacuum (UHV) or in aqueous environments, and the widely spread low-temperature and/or high-performance UHV scanning tunneling microscopy.

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