表面と真空
Online ISSN : 2433-5843
Print ISSN : 2433-5835
特集「電極界面分析法の最先端」
軟X線発光分光で見る水の水素結合とオペランド分光への展開
原田 慈久
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2024 年 67 巻 5 号 p. 224-228

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抄録

Synchrotron radiation plays a crucial role in the analysis of valence states which play an important role in the function of materials. In this paper, the development and application of the analysis using synchrotron-radiation-based soft X-rays are outlined, and the research expected in the next generation synchrotron radiation NanoTerasu is commented.

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