陽電子消滅によって調べた各種シリカ基ガラス中の構造ナノボイド

抄録

放射性廃棄物固化体ガラス中の構造的ナノボイドを調べる目的で各種のシリカ基ガラスの陽電子寿命および２次元角相関を測定した。ナノボイド中に生ずるポジトロニウムを利用することにより、ナノボイド半径、密度などの有用な知見を得ることが出来た。