JT-60U外側ダイバータ領域のDD放電タイル中の水素同位体挙動

抄録

JT-60UでDD放電実験を行った外側ダイバータ領域のタイル中の水素同位体分析をSIMSを用いて行った。また、グラファイトの化学状態変化についてXPS、タイル表面での再堆積層の有無をSEMを用いて調べた。その結果、排気ポートに近い領域では再堆積層が観察され、水素・重水素濃度が高いことがわかった。一方、ストライクポイントの頻度が高いタイル中央部ではエロージョンが支配的であり、水素・重水素濃度とも低いことがわかり、ストライクポイントの頻度やタイルの温度の影響を大きく受けていると考えられる。