日本原子力学会 年会・大会予稿集
2005年秋の大会
セッションID: B51
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ビーム利用分析
マイクロビームの照射コントロール
*小山 亮平石井 慶造山崎 浩道松山 成男菊池 洋平川村 悠渡辺 慶人
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抄録
 マイクロビームを用いたイオンビーム分析の迅速化、効率化を図るために、スキャニングシステムの特性評価と、任意パターン照射システムの開発を行った。
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© 2005 一般社団法人 日本原子力学会
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