散漫散乱測定による中性子多層膜ミラーの界面構造の観察

抄録

中性子多層膜ミラーの界面構造を中性子散漫散乱測定により評価した。その結果、Ni/Tiに換えてNiC/Ti多層膜を用いることで多層膜界面の面間の相関長が大きくなり、中性子スーパーミラーの散漫散乱強度が抑えられることを実証した。