数ＭｅＶ荷電粒子を、リアルタイム大強度で非破壊的に計測可能なビームプロファイル手法の開発

抄録

数ＭｅＶ荷電粒子ビームプロファイルモニターを非破壊かつ、リアルタイムに計測可能な手法を開発した。本手法を用いることで、数10μAから１ｍＡまでのビーム強度を、照射しながらビーム形状を実タイムで計測できる。本手法の特性評価を放医研の大強度中性子照射施設（NASBEE)で実施し、検証した。本手法は、今後の大強度ビームが必要な加速器BNCTのビームプロファイルモニターとして利用することができる。