超低被曝量診断を目指したtransXend検出器出力の多変量解析によるX線画像化

神野 郁夫; 島 一成; 島崎 紘亘; 山下 良樹; 大高 雅彦; 橋本 周; 荒 邦章; 尾鍋 秀明

doi:10.11561/aesj.2012f.0.82.0

2012年秋の大会

セッションID: I43

DOI https://doi.org/10.11561/aesj.2012f.0.82.0

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主催: 一般社団法人日本原子力学会

超低被曝量診断を目指したtransXend検出器出力の多変量解析によるX線画像化

*神野郁夫, 島一成, 島崎紘亘, 山下良樹, 大高雅彦, 橋本周, 荒邦章, 尾鍋秀明

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キーワード: X線コンピュータ断層撮影, エネルギー分解, 多変量解析

会議録・要旨集認証あり

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抄録

我々は，Ｘ線を従来通り電流として測定し，入射Ｘ線のエネルギー分布を得るtransXend検出器を開発した．2012年春の学会においては，transXend検出器の電流出力に多変量解析を応用し，1回の透過撮影によってファントム中のアクリル，ヨウ素およびアルミニウムの厚さ分布測定ができることを報告した．今回は，xおよびy方向からの透過撮影を行い，ファントム中の物質分布について報告する．

責任著者(Corresponding author)

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