日本原子力学会 年会・大会予稿集
2012年春の年会
セッションID: K51
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除染技術
七フッ化ヨウ素ガスを用いた系統除染に関する基礎的研究
(1) 運転データを用いたウラン化合物付着モデルの推定
横山 薫秦 はるひ高橋 信雄*杉杖 典岳百武 徹笹倉 万里子箕輪 弘嗣
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抄録
七フッ化ヨウ素を用いた除染手法は、ウラン濃縮プラントや転換プラントのような、ウランフッ化物(代表的な化合物=六フッ化ウラン)を取り扱った施設の系統除染手法として知られている。本報告では、七フッ化ヨウ素を用いた系統除染のメカニズムを分子レベルで解明することを目指した研究の背景及び本研究のリファレンスとなる基礎的情報の整備として、プラント機器内部に付着しているウラン化合物である四フッ化ウランの生成過程の推定結果、四フッ化ウランの付着速度の推定結果について報告する。
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© 2012 一般社団法人 日本原子力学会
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