主催: 一般社団法人画像電子学会
共催: 早稲田大学先進理工学部
会議名: 2016 第44回画像電子学会年次大会予稿集
回次: 44
開催地: 早稲田大学 国際会議場
開催日: 2016/06/18 - 2016/06/19
三菱電機株式会社
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ソフトウェアの回帰試験や環境のリプレース時のGUI試験において、表示画面の確認作業による工数が大きいという課題がある。従来は、ビットマップチェック等により画面の完全一致/不一致を自動判定する手法が一般的であった。このとき、不一致と判定された画面については目視で確認する必要がある。本発表では、不一致と判定された画面の差異の傾向から不具合原因を分析する手法を提案し、その評価結果について述べる。
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