画像電子学会年次大会予稿集
Online ISSN : 2436-4398
Print ISSN : 2436-4371
2016年度 第44回画像電子学会年次大会 予稿集
セッションID: R1-3
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GUI試験システムにおける差異画素抽出に基づく画面照合方式
*鶴崎 真理子阿倍 博信
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会議録・要旨集 認証あり

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抄録

ソフトウェアの回帰試験や環境のリプレース時のGUI試験において、表示画面の確認作業による工数が大きいという課題がある。従来は、ビットマップチェック等により画面の完全一致/不一致を自動判定する手法が一般的であった。このとき、不一致と判定された画面については目視で確認する必要がある。本発表では、不一致と判定された画面の差異の傾向から不具合原因を分析する手法を提案し、その評価結果について述べる。

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© 2016 一般社団法人 画像電子学会
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