微量金属イオンの簡易目視検出を支援する化学システムと関連技術

抄録

本論文では，可能な限り簡便な操作で迅速に微量金属イオンを測定することを目的として開発された分析方法について解説する．分析対象となる金属イオンに対する感度と選択性を確保するために，金属錯体の解離反応の速度特性，固相表面と金属錯体との相互作用，錯形成平衡とスペクトル特性との協同効果を利用した事例として，薄層クロマトグラフィー，メンブランフィルターへの濃縮を用いる定量分析，及び，同種金属二核錯体システムによる微量金属イオンの目視閾値判定法について取り上げる．