薄層クロマトグラフ用シリカゲル表面付着の微量鉄の除去と定量
薄層クロマトグラフ用シリカゲル中の微量鉄の除去と定量(第2報)
1966 年 15 巻 2 号 p. 169-171
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1966 年 15 巻 2 号 p. 169-171
(1)塩酸-メチルイソブチルケトン分配抽出法によれば,振り混ぜ1.5hrでシリカゲル中の全鉄量(4×10-3%)の約23%が抽出され,さらにメチルイソブチルケトンを取り替えることによって計5回抽出すると約25%が抽出され,それ以上シリカゲルからは鉄は出てこない.この量が表面付着の鉄量であるとみなされる.
(2)本法によれば,シリカゲルに添加した鉄はほとんど全部回収され,したがって,シリカゲルの表面に付着している鉄はほとんど完全に除去できることとなる.
