粉末加圧成形試料を用いたシリカフュームの蛍光X線分析方法に関する検討

抄録

本研究は、シリカフュームの化学分析への蛍光X線分析方法の導入に向けて、最も重要な課題の一つである試料調製方法に関する基礎データを得ることを目的として、粉末加圧成形に着目し、実験的検討を行った。その結果、適切な試料調製条件で作製した粉末加圧成形試料を分析用試料として用いることで、ガラスビード試料において問題となる揮発成分の影響を受けることなく、シリカフュームの化学分析に蛍光X線分析を適用できることを確認した。