2022年9月15日
XFEL 利用の単粒子 X 線回折で探る Xe クラスターの結晶化ダイナミクス
https://ror.org/03t78wx29 
2022 年 19 巻 5 号 p. 80-88
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2022 年 19 巻 5 号 p. 80-88
物質の結晶化は新規物質合成の基礎となるテーマであり，そのダイナミクスを原子スケールかつ実時間で理解することは重要である.我々は X 線自由電子レーザーを用いた単粒子 X 線回折を Xe クラスタービームに適用し，生成直後の Xe クラスターの構造を観測することに成功した.単粒子 X 線回折によって一つ一つのクラスターの構造を解析することで，Xe クラスターでの結晶化が積 層欠陥を含む準安定相を経由して進行することを示唆する結果を得た.本研究は，XFEL の単粒子 X 線回折が持つ高い時間分解能が，構造変化を伴う非平衡過程のダイナミクス研究に強力な手法となることを示している.
