分光法による粘土層間メチレンブルーの状態の解析

抄録

層電荷密度の異なる各種の粘土鉱物について配向膜を作製し、メチレンブルーを包接して、その配向性·会合状態を偏光可視紫外分光と粉末X線回折によって調べた。層電荷密度の減少に伴い、層間でのメチレンブルーの分子の量が減少し、会合体形成が抑制され、モノマーの割合が増加した。その結果、底面間隔の減少を導いた。