エレクトロニクス実装学術講演大会講演論文集
第17回エレクトロニクス実装学術講演大会
セッションID: 14C-17
会議情報

Cu電極への低接触力コンタクト
*伊藤 寿浩片岡 憲一奥村 勝弥須賀 唯知
著者情報
会議録・要旨集 フリー

詳細
抄録
MEMSプローブカードによるテストシステムを実現するために必要な、フリッティングプロセスおよび水素によるCuの還元を利用した、低接触力コンタクトプロービングについて述べる。
著者関連情報
© 2003 一般社団法人エレクトロニクス実装学会
前の記事
feedback
Top