電子機器内の近傍放射とノイズ耐力の比較

抄録

電子機器から発生する電磁波（エミッション）と、それによる機器の性能低下との関係を調べるために同一機器内におけるエミッションとノイズ耐力（イミュニティ）の2つを測定し、比較を行った。エミッションには近傍電磁界を、イミュニティには通信スループット速度を用いて測定した結果、特定周波数のエミッションとイミュニティとの間に相関が見られた。