抄録
Snウィスカは50年以上前に世界中の市場で機器故障を引き起こし、試行錯誤の上に鉛を微量添加することである程度の抑制が可能になった現象であり、その時点で科学的な見地から多くの発生成長に関するメカニズムの検討が行われた。これが、ファインピッチ化と同時に鉛フリー化が進み、再びエレクトロニクスの信頼性に関わる大きな問題としてクローズアップされている。Snウィスカの発生と成長には複雑な環境条件が関与し、メカニズムの理解は未だに不十分であるが、本講演では市場故障原因として懸念される５種類のウィスカ発生メカニズムの理解の現状を紹介し、期待される抑制方法の提案状況をまとめる。
