銅張り誘電体基板における界面導電率の周波数依存性の測定

抄録

銅張り誘電体基板は銅箔を張り付ける際に面荒らしが行われているため、表皮効果により界面導電率が低下する。本報告では、ＭＩＣ形誘電体共振器法により銅張り誘電体基板のマイクロ波帯における界面導電率の周波数依存性を測定したので報告する。