エレクトロニクス実装学術講演大会講演論文集
第24回エレクトロニクス実装学術講演大会
セッションID: 10DP-19
会議情報

第24回エレクトロニクス実装学術講演大会
フラックス残渣によるアンダーフィル封止信頼性に及ぼす影響
*渡辺 潤宮崎 誠初澤 健次荘司 郁夫
著者情報
会議録・要旨集 フリー

詳細
抄録
 フリップチップのC4実装では無洗浄化が期待されているが、フラックスが残っている場合に様々な信頼性を低下させることが懸念されている。 本発表では、フラックス残渣とアンダーフィル充填性、およびアンダーフィル接着強度の関係を確認し、実装信頼性への影響について検証した結果を報告する。
著者関連情報
© 2010 一般社団法人エレクトロニクス実装学会
前の記事 次の記事
feedback
Top