エレクトロニクス実装学術講演大会講演論文集
第32回エレクトロニクス実装学術講演大会
セッションID: 7P1-2
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主催: 一般社団法人エレクトロニクス実装学会

第32回エレクトロニクス実装学術講演大会
平板の非破壊検査のためのラメモードラム波を用いた検討
*福田 誠, 今野 和彦
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