エレクトロニクス実装学術講演大会講演論文集
第34回エレクトロニクス実装学術講演大会
セッションID: 4D2-02
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温度サイクル試験におけるAgシンター接合の寿命予測手法の検討
*佐藤 大輔堀井 良和榎本 真也
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抄録

高耐熱実装技術としてAgシンター接合の適用が始まっている。今回我々は加圧/無加圧双方のAgシンター材を使って、Si/SiCを基板に実装し熱疲労寿命を取得、併せてFEM解析を行ない、加圧/無加圧材各々のSN線図を取得した。また併せてチップを実装した銅板サンプルに対し、チップ表面の残留応力をラマン散乱法により、及び基板の反り変形量をレーザー変位計にて測定し、FEM解析による算出値と照合することで、FEM解析に使用したシンター材の物性値(ヤング率、クリープ速度、CTEなど)、及びFEM解析自体が妥当であることを確認した。

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© 2020 一般社団法人エレクトロニクス実装学会
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