液晶パネルの高信頼性化・残留DCと画素電極の関係

抄録

不純物イオンの基板界面或いは配向膜界面への吸着現象を、残留DC値より評価した。 配向膜がある場合には膜内部への不純物取り込み量が影響している事がわかった。し かしながら配向膜がない場合や極薄膜の時の挙動から、残留DC値はイオン吸着量など 単一的な要因ではなく、配向膜下にある電極材料の影響を受けていることがわかっ た。また、電極－液晶間、あるいは電極－配向膜間の界面の影響が大きいことを確認 した。