偏光ラマン分光法によるWVフィルム中の深さ方向での分子配向の研究

抄録

TN-LCD用光学補償フィルムWV-Aに対し、低角斜め切削法と偏光顕微ラマン分光法を組み合わせて、深さ方向での分子配向の測定を行った。重合性の円盤状液晶分子(以下、PDM)からなる約1.4mmの層の中で、PDM自身の配向が変化している様子が直接観測された。PDM骨格はある程度の分布をもって配向し、さらに平均的な配向方向として、表面に向かってPDM骨格が立っていくことが明らかになった。