ホモジニアス配向のアゾ色素ドープ液晶材料へのホログラム記録による回折格子

抄録

ホモジニアス配向のアゾ色素ドープ液晶材料へ、2光波干渉光を照射することにより回折格子の記録を行なった。この格子の回折特性を測定した結果、回折光の強度及び偏光状態は干渉させる2光波の偏光によって大きく異なることが確認された。この結果は、材料が初期状態で配向していることによる照射干渉光の伝播方向への偏光変化と、その偏光変化に応じた膜の厚さ方向への分子再配列分布を考えることで説明可能であった。