日本液晶学会討論会講演予稿集
Online ISSN : 2432-5988
Print ISSN : 1880-3490
ISSN-L : 1880-3490
2011年 日本液晶学会討論会
セッションID: PA15
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界面マイクロパターンを用いたHOMO-90°TN双安定に関する研究
*柏木 竜希都甲 康夫木村 宗弘赤羽 正志
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抄録
画像のメモリー効果や低消費電力化が期待できる双安定液晶素子が注目されてい る。そこで配向処理方法として以前から用いられているラビング法と光配向法を用い、配向膜表面に互いに直交する配向容易軸を形成する界面マイクロパターンによる双安定性を検討する。本研究では、界面マイクロパターンを用いた、ホモジニアス・90°TN双安定モデルを作製しスイッチングを試みた。
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© 2011 日本液晶学会
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