電圧対静電容量特性を用いたフレクソ係数（e11+e33）の測定における液晶材料中の不純物イオン密度の影響

日本液晶学会討論会講演予稿集

Online ISSN : 2432-5988
Print ISSN : 1880-3490
ISSN-L : 1880-3490

2017年日本液晶学会討論会

セッションID: PA08

DOI https://doi.org/10.11538/ekitou.2017.0_PA08

会議情報

主催: 一般社団法人日本液晶学会

会議名: 2017年日本液晶学会討論会

開催地: 弘前大学

開催日: 2017/09/13 - 2017/09/15

電圧対静電容量特性を用いたフレクソ係数（e11+e33）の測定における液晶材料中の不純物イオン密度の影響

*工藤幸寛, 伊皆健太郎, 白井紀冴, 高橋泰樹

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