IEICE Electronics Express
Online ISSN : 1349-2543
ISSN-L : 1349-2543
ERRATA
Erratum: Assessing alpha-particle-induced SEU sensitivity of flip-chip bonded SRAM using high energy irradiation [IEICE Electronics Express Vol. 13 (2016) No. 17 pp. 20160627]
Saqib A. Khan, Shi-Jie Wen, Sanghyeon Baeg
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2016 年 13 巻 19 号 p. 20168001

IEICE Electron. Express : Vol. 13 (2016) No. 17 pp.20160627-20160627
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